ESTUDIO DE LA CONVERGENCIA NUMÉRICA DE LAS PROPIEDADES ÓPTICAS DE NANOESFERAS DE SILICIO POROSO.

Resumen

En la actualidad, la espectroscopía Raman hace uso de estructuras nanométricas metálicas adicionales para amplificar la señal adquirida de muestras con concentraciones bajas. Esta técnica, sin embargo, acarrea costos significativos y presenta ciertas dificultades en su ejecución. En esta investigación preliminar, se busca explorar enfoques alternativos basados en materiales no metálicos que puedan ser empleados como sustratos para la espectroscopía Raman. Esto plantea la importancia de realizar una caracterización teórica detallada antes de llevar a cabo experimentos. En consecuencia, este estudio presenta los resultados de un análisis metodológico centrado en las eficiencias ópticas de nanoesferas de silicio poroso. Para ello, se emplea el método de Aproximación de Dipolo Discreto, evaluando la variación de las eficiencias en función de la porosidad del silicio y el tamaño de discretización en las nanoesferas. Los resultados obtenidos se comparan con los calculados usando la Teoría de Mie, que constituye la solución exacta para evaluar las eficiencias ópticas de esferas pequeñas cuando son irradiadas por una onda monocromática plana. Los valores resultantes, que favorezcan una convergencia numérica óptima, sentarán las bases para investigaciones posteriores en las que se involucre un mayor número de nanoesferas de silicio poroso.